JAI, 고속 생산 라인 검사를 위한 차세대 SWIR 라인 스캔 카메라

▲ JAI Wave 시리즈 SWIR 라인 스캔 카메라 ‘WAL-1001-GE’(사진 왼쪽), ‘WAL-2001-GE’(오른쪽)

JAI가 고성능 SWIR 라인 스캔 카메라 2종을 출시하며 Wave 시리즈를 확장했다. 이번 신제품은 1K 해상도의 ‘WAL-1001-GE’와 2K 해상도의 ‘WAL-2001-GE’로 구성되며, 단파장 적외 선(SWIR) 이미징 기술과 GigE Vision 인터페이스를 결합한 것이 특징이다.

대형 픽셀 기반의 고감도 SWIR 이미징

WAL-1001-GE와 WAL-2001-GE는 모두 12.5µm × 12.5µm 대형 픽셀을 기반으로 한다. 이를 통해 높은 신호 대 잡음비와 우수한 적외선 감도를 제공하며, 저조도 환경이나 고속 검사 조건에서도 안정적인 이미징을 지원한다.

두 카메라는 최대 83%의 피크 양자 효율을 제공해 SWIR 스펙 트럼 전반에서 높은 감도를 구현한다. 또한 8비트, 10비트, 12 비트, 14비트 모노 출력을 지원해 검사 대상의 밝기 차이와 그레이스케일 변화를 보다 정밀하게 표현할 수 있다.

1K·2K 라인업으로 적용 범위 확대

WAL-1001-GE는 1 × 1024픽셀 해상도의 1K SWIR 라인 스캔 카메라로, 최대 29kHz의 라인 속도를 지원한다. 12.8mm 폭의 SWIR 센서와 표준 C-마운트, GigE Vision 인터페이스를 결합해 감도, 화질, 처리량 간의 균형이 필요한 검사 시스템에 적합하다.

WAL-2001-GE는 2K 해상도를 지원하는 SWIR 라인 스캔 카메라로, 최대 40kHz의 라인 속도를 제공한다. 이 제품은 0.5픽셀 오프셋이 적용된 듀얼 라인 아키텍처를 활용해 2 × 1024픽셀 이미징을 구현한다. 이를 통해 기존 1K 라인 스캔 카메라 대비 더 높은 샘플링 밀도를 제공하며, 서브 픽셀 수준의 결함 감지를 지원한다.

GigE Vision 기반의 손쉬운 시스템 통합

두 제품은 GigE Vision 인터페이스를 지원해 산업용 머신비전 시스템에 쉽게 통합할 수 있다. GigE Vision은 널리 사용되는 표준 인터페이 스로, 효율적인 데이터 전송과 안정적인 시스템 구성을 지원한다. 또한 12.8mm 센서 폭과 표준 C-마운트 광학계를 지원해 다양한 렌즈와 호환된다. 이를 통해 기존 검사 장비에 적용하거나 신규 라인 스캔 검사 시스템을 구성할 때 설계 유연성을 높일 수 있다.

<표> WAL-1001-GE와 WAL-2001-GE 사양 비교

자료제공: JAI(www.jai.com)