SWIR 라인 스캔 카메라 ‘allPIXA SWIR

1. 넓은 스펙트럼 범위 지원

• 950~1,700nm 파장대의 단파 적외선 감지

• 가시광선 영역을 넘어선 정밀 분석 가능

2. 고성능 InGaAs 센서 탑재

• 고감도·저노이즈 InGaAs 센서 적용

• 12.5µm(1k) 또는 25µm(512) 해상도 선택 가능

3. 빠른 라인 속도와 안정된 품질

• 최대 40kHz 라인 속도 실현

• 고속 검사에서도 우수한 이미지 품질 유지

4. 산업 표준 인터페이스 호환

• GigE Vision 및 GenICam 완벽 지원

• 기존 머신비전 시스템에 손쉬운 통합

5. 비파괴 검사 및 분석용 최적 솔루션

• 반도체, 코팅, 수분·물질 감지, 내용물 검사에 적합

• 육안으로 식별 불가한 결함·오류 감지 가능

자료제공: Chromasens(www.chromasens.de)