Gpixel, 후면 조사 및 고속 판독 기능의 8k 및 16k BSI 센서 2종 출시

▲ GLT5008BSI(왼쪽) GLT5016BSI(오른쪽) 제품 사진

Gpixel은 고속, 후면 조사(BSI) 시간 지연 및 통합(TDI) 라인 스캔 제품인 GLT 시리즈에서 두 가지 신제품을 발표했다.

수평 해상도가 8k 픽셀인 ‘GLT5008BSI’와 수평 해상도가 16k 픽셀인 ‘GLT5016BSI’는 모두 고성능 5µm 픽셀 기술을 활용한다. 이 제품은 향상된 감도를 위한 후면 조사, 높은 동적 범위(각각 256 및 32단계)를 제공하는 듀얼 밴드 아키텍처, 처리량을 최적화하는 고속 판독 기능을 갖추고 있다. 감도와 속도가 뛰어나기 때문에 반도체 계측, 고급 IC 패키 징, 디스플레이 제조, 유전체학과 같은 고처리량 생명 과학 이미징 애플 리케이션에서 저조도 광시야 검사에 적합하다.

▲ IUV와 VIS 변형에 대한 GLT5008BSI 및 GLT5016BSI 분광 감도 곡선

GLT5008BSI는 500kHz와 1MHz의 두 가지 속도로 제공되는 반면, GLT5016BSI는 최대 500kHz의 라인 속도에서 작동한다. 500kHz에서 동적 범위는 12비트 모드에서 65.8dB이다. 10비트 모드에서 센서는 1MHz에서 61.5dB를 달성한다(GLT5008BSI만 해당). 256단계 및 32단계 뱅크는 별도로 읽고 칩 외부에서 결합하여 확장된 동적 범위를 제공할 수 있다.

두 제품 모두 고급 BSI 및 반사 방지 코팅 기술 덕분에 440nm에서 최대 양자 효율 >92%로 광범위한 감도를 제공한다.

GLT5008BSI 및 GLT5016BSI는 300nm 미만의 높은 QE 와 제거 가능한 커버 유리를 갖춘 UV 최적화 표준버전으로 제공된다. 또한 GLT5016BSI에는 시각 및 NIR 범위에 최적화된 두 번째 변형이 있다.

이미지 데이터는 GLT5008BSI 및 GLT5016BSI의 경우 각각 1.2Gbps 또는 960Mbps의 72 또는 108개의 하위 LVDS 데이터 채널을 통해 전송된다. 최대 프레임 속도가 필요하지 않은 애플리케이션의 경우 멀티플렉싱 모드를 사용하여 출력 채널 수를 줄일 수 있다.

Gpixel의 최고상업책임자(CCO)인 Wim Wuyts는 “Gpixel 은 저조도 애플리케이션을 위한 TDI 센서 범위를 크게 확장했다. 새로운 8k 및 16k TDI 센서는 기존 9k TDI 센서와 함께 기계 제작자에게 TDI 카메라 및 프레임 그래버에 대한 다중 소스 전략을 통해 공급망 위험을 완화할 수 있는 여러 옵션을 제공한다”고 말했다.

GLT5008BSI는 231핀 µPGA 패키지로 제공되는 반면, GLT5016BSI는 415핀 µPGA 패키지로 제공된다. 샘플 및평가 시스템은 2025년 1분기부터 제공될 예정이다.

자료제공: Gpixel(www.gpixel.com)